了解高斯計(jì)

了解高斯計(jì)：
              
      顯示磁場讀數(shù)是高斯計(jì)*基本的功能。為使測量者獲知讀數(shù)，通常采用3種顯示方案，即指針表頭、數(shù)字表頭和微處理器控制。 
      指針表頭將電流轉(zhuǎn)化為指針在表盤中的偏轉(zhuǎn)位置，是*古老的讀數(shù)顯示方案，通常可提供5%的有效讀數(shù)分辨準(zhǔn)確度。即使指針位置不存在誤差，測量者相對表盤的角度和估算經(jīng)驗(yàn)也將顯著提高讀出誤差，并且讀數(shù)速率很低。因此，在對準(zhǔn)確度和測量速率要求稍高的應(yīng)用中，指針表頭已趨淘汰。
       數(shù)字表頭是針對指針表頭讀出誤差問題的改進(jìn)方案。數(shù)字表頭內(nèi)部集成ADC，將電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字量，并通過數(shù)碼管或段式液晶顯示為數(shù)字讀數(shù)，從而為測量者提供直觀的讀數(shù)。數(shù)字表頭具有固定的讀數(shù)速率，并且無法外部控制。
       指針表頭和數(shù)字表頭均只能顯示磁場讀數(shù)，而無法提供更多的測量信息。無論使用二者之一，表頭之前均為簡單的模擬電路結(jié)構(gòu)，因此必須大量使用易損低壽命的琴鍵開關(guān)和機(jī)械電位器實(shí)現(xiàn)有限的功能。
       現(xiàn)代測量不僅需要可顯示的讀數(shù)，還需要更多的功能。自動化測量至少需要高斯計(jì)與計(jì)算機(jī)之間的通訊接口，從而使計(jì)算機(jī)通過抗干擾的數(shù)字方式獲取讀數(shù)。使用表頭的高斯計(jì)無法提供數(shù)字接口，只能通過與磁場值成正比的模擬輸出接口與計(jì)算機(jī)外設(shè)的數(shù)字采集卡相連，外界干擾和處理環(huán)節(jié)增多將降低測量效用。
       很多情況下，例如調(diào)整探頭位置等必須人工參與的環(huán)節(jié)，與測量值共同顯示的*大值將提供足夠的便利。然而，數(shù)字表頭通常單行顯示，無足夠顯示空間。而采用雙表頭時(shí)，記錄*大值的表頭之前必須配置復(fù)雜的依靠電容的*大值保持模擬電路，電容不可避免的漏電問題將造成嚴(yán)重的*大值誤差。
       更**的高速自動測量要求嚴(yán)格的測量實(shí)時(shí)性，即于某一時(shí)刻在同步觸發(fā)信號觸發(fā)多臺儀器同步測量多個(gè)參數(shù)在此時(shí)刻的量值。數(shù)字表頭的測量起始時(shí)刻點(diǎn)由表頭內(nèi)部電路決定，無法控制，因此只能得到一段時(shí)間內(nèi)的平均值，而非某一時(shí)刻的準(zhǔn)確測量值，無法適應(yīng)高速測量要求。
       數(shù)字表頭不具備運(yùn)算功能，因此只能實(shí)現(xiàn)高斯G與特斯拉T之間的換算，而對于Oe與A/m之間的非10的n次冪換算無能為力。
       磁場讀數(shù)之外的功能已成為高斯計(jì)不可或缺的組成部分，而使用表頭的產(chǎn)品由于過于簡單的結(jié)構(gòu)愈發(fā)無法適應(yīng)現(xiàn)代測量要求。使用內(nèi)部微處理器的高斯計(jì)成為主流。

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